Тонкое исследование вещества

Сканирующий электронный микроскоп – JSM-6390LV (фирма Jeol, Япония) с приставками для локального микроанализа: энергодисперсионный спектрометр (EDS) и волновой спектрометр (WDS) (фирма OXFORD INSTRUMENTS, Великобритания).
 
Электронный микроскоп позволяет проводить следующие виды исследований вещества:
1. Строение, морфология, структура объектов размером  < 1 мкм.
2. Микрорельеф поверхности – скульптуры роста, фигуры травления и т.п.
3. Локальный микроанализ химического состава образца с определением элементов от B до U, с точностью до 0,01%.
4. Микрофотографирование поверхности образца путём сканирования и вывод на экран.

Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп ультравысокого разрешения JSM-7500F (фирма Jeol, Япония)
 
Предназначен для исследования тонкой структуры поверхности веществ при экстремально низких ускоряющих напряжениях (от 100 В до 3 кВ) c ультравысоким разрешением. 
 
Электронный микроскоп позволяет проводить следующие виды исследований вещества:
1. Анализ наноструктурных объектов.
2. Строение, морфология, структура кристаллов размером  до 5 нм.
3. Нанорорельеф поверхности минералов – скульптура роста, фигуры травления и т.п.
4. Микрофотографирование поверхности путём сканирования и вывод на монитор компьютера. 

Спектрометр индуктивно-связанной плазмы с масс-спектральным детектированием Aurora M90 («Bruker», ФРГ) и системой лазерной абляции LSX-21362 («CETAC technologie»,  USA)

ICP MS спектрометр является современным методом определения малых (мкг/кг) и сверхмалых (нг/кг и менее) концентраций элементов в различных объектах. 
 
Метод позволяет проводить определение практически всех элементов периодической системы в одной пробе за короткое время.
 
Приставка лазерной абляции используется для определения элементного состава различных материалов на ICP-MS спектрометре в твердой фазе.
 
Микрофокусная система рентгеновского контроля с функцией компьютерной томографии на базе рентгеновской установки Nikon Metrology XT H 225+160 LC
 
Метод рентгеновского контроля является методом неразрушающего контроля и исследования различных объектов. При помощи рентгеноскопии можно проводить исследования неоднородных включений, изучать структурные особенности образцов. Для более полного и качественного анализа объекта используется метод Компьютерной томографии, позволяющий проводить послойный анализ объектов контроля, так и производить сравнение 3D данных Компьютерной томографии с исходной CAD-моделью объекта.

Поделиться информацией: